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Arrojando luz en la oscuridad del ciberespacio

¿Usas redes sociales para estar conectado con familia y amigos? ¿Te entretienes con juegos virtuales y vídeos online? ¿Alguna vez has pedido comida o ropa a domicilio? Si la respuesta a alguna de estas preguntas es sí, ¡ya vives en el ciberespacio!
16 Julio 2025

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IMSE ciencia futuro
El IMSE abre sus puertas a la ciencia del futuro

Más de 400 estudiantes han explorado el mundo de la microelectrónica durante el curso 2024-2025 en una apuesta por la divulgación y el fomento de vocaciones científicas.
8 Julio 2025

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Prediccion desgaste electronico
Acelerando la predicción del desgaste electrónico

El IMSE propone soluciones eficientes para modelar la degradación de circuitos a gran escala.
7 Julio 2025

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Visita IMSE Ministro Transformación Digital
El IMSE recibe al ministro de Transformación Digital en una jornada clave para impulsar la colaboración público-privada

El ministro recorrió las instalaciones del IMSE para conocer de cerca la labor investigadora y el potencial tecnológico del centro en el ámbito de la microelectrónica.
2 Julio 2025

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Antonio Dominguez Beca Ramón y Cajal
Uno de los investigadores postdoctorales en el IMSE, premiado con la ayuda Ramón y Cajal

Esta beca promovida por el Ministerio de Ciencia, Innovación y Universidades favorece la incorporación de talento investigador altamente cualificado al sistema español de I+D+i.
23 Junio 2025

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Estudiante doctorado beca IEEE CAAS 2025
El estudiante Yanjin Lyu, dirigido por el Prof. José Manuel de la Rosa, recibe la prestigiosa beca Pre-Doctoral IEEE CASS Grant 2025

El alumno dirigido por el investigador de nuestro centro José Manuel de la Rosa, Yanjin Lyu, ha sido galardonado con una Pre-Doctoral IEEE CASS Granten en su edición 2025 por su destacada investigación en diseño de convertidores analógico-digitales.
30 Mayo 2025

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Nueva Directora del IMSE-CNM


La investigadora del IMSE Teresa Serrano Gotarredona ha sido nombrada nueva Directora del Instituto de Microelectrónica de Sevilla.

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A Side-Channel Protected and High-Performance Hardware Implementation for EdDSA25519
P. Navarro-Torrero, E. Camacho-Ruiz, M.C. Martínez-Rodríguez and P. Brox
Journal Paper · IEEE Access Vol 13
IEEE    ISSN: 2169-3536
resumen      doi      

This paper presents a high-performance and secure hardware implementation of the Edwards-Curve Digital Signature Algorithm (EdDSA25519). Using the fixed-base signed multi-comb and the k-ary algorithms for scalar multiplication, the proposed design achieves 307%, 253%, and 48% faster performance in key generation, signature generation, and signature verification, respectively, compared to the fastest previous hardware implementation in the state-of-the-art. When compared to the software-based OpenSSL implementation, our design demonstrates timing performance improvements ranging from 1000% to 2200%. Additionally, we integrate robust Side-Channel Attack (SCA) countermeasures and validate their effectiveness through Test Vector Leakage Assessment (TVLA). The results demonstrate increased resistance to Simple Power Analysis (SPA) and Differential Power Analysis (DPA), offering a hardware-based secure solution for modern cryptographic applications.

Workload Compression Techniques to Scale Defect-Centric BTI Models to the Circuit Level
A. Santana-Andreo, V.M. van Santen, R. Castro-López, E. Roca, H. Amrouch and F.V. Fernández
Journal Paper · IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers (Early Access), 2025
IEEE    ISSN: 1549-8328
resumen      doi      

Bias Temperature Instability (BTI) poses a significant challenge in ensuring the reliability of digital systems, affecting the delay of digital logic gates, which ultimately can lead into timing failures. Sophisticated defect-centric models have been developed and successfully calibrated against empirical data to forecast the impacts of BTI at the device level. However, their application to large-scale digital circuits operating under realistic workloads over typical system lifetimes is limited because of the computational complexity of defect-centric models. To make the application of aging models in that context feasible, a useful technique is to compress the transistor workloads into simplified and hence manageable representative workloads. While fast in terms of execution speed, previous techniques struggle with accuracy when predicting aging degradation, and can reach a very high average error in threshold voltage increase prediction. In this work, we review the compression techniques described in the literature and propose two novel approaches that surpass existing ones in terms of accuracy, which is demonstrated for a complex digital design used as benchmark. Specifically, our best compression technique matches the predictions obtained through the reference uncompressed workloads, introducing negligible error, and maintains low execution times to efficiently and accurately scale defect-centric models to the circuit level.

TVLA assessment and proposed countemeasures on the hardware implementation of EdDSA25519
P. Navarro-Torrero, E. Camacho-Ruiz, M.C. Martinez-Rodriguez and P. Brox
Conference · Demo in the University Fait at DATE (Design, Automation and Test in Europe Conference) 2025, Marzo 31-Abril 2, 2025 (https://www.date-conference.com)
resumen     

Abstract not available

VLSI Integration of a Physical Unclonable Function as identifier and key generator
P. Ortega-Castro, M.C. Martinez-Rodriguez and P. Brox
Conference · Demo in the University Fait at DATE (Design, Automation and Test in Europe Conference) 2025, Marzo 31-Abril 2, 2025 (https://www.date-conference.com)
resumen     

Abstract not available

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El área de especialización del Instituto es el diseño de circuitos integrados analógicos y de señal mixta en tecnología CMOS, así como su uso en diferentes contextos de aplicación tales como dispositivos biomédicos, comunicaciones inalámbricas, conversión de datos, sensores de visión inteligentes, ciberseguridad, computación neuromórfica y tecnología espacial.

La plantilla del IMSE-CNM está formada por unas cien personas, entre personal científico y de apoyo, que participan en el avance del conocimiento, la generación de diseños de alto nivel científico-técnico y la transferencia de tecnología.

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