Acelerando la predicción del desgaste electrónico

El IMSE propone soluciones eficientes para modelar la degradación de circuitos a gran escala

Prediccion desgaste electronico

Investigadores del Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM), en colaboración con la Technical University of Munich, han publicado un artículo donde se plantea un fenómeno que afecta la fiabilidad de los chips electrónicos, cuyos componentes se degradan con el paso del tiempo, provocando que los circuitos funcionen más lentamente o incluso fallen.

Actualmente existen modelos científicos muy detallados que simulan con precisión cómo afecta este problema a nivel de transistores (los bloques básicos de los chips). Pero hay un gran inconveniente: esos modelos son tan complejos que resulta muy difícil aplicarlos a grandes circuitos porque llevaría demasiado tiempo de cálculo. Para resolver este problema, el estudio plantea comprimir la información requerida por estos modelos para que se puedan ejecutar de una forma a la vez rápida y fiable.

Además del valor técnico y científico del estudio, cabe destacar su relevancia en el contexto de la sostenibilidad. Comprender y predecir con mayor precisión el desgaste de los circuitos electrónicos permite diseñar sistemas más duraderos y resistentes, lo que contribuye de forma directa a la lucha contra la obsolescencia prematura de los equipos electrónicos. Al prolongar la vida útil de los dispositivos, se reduce la necesidad de reemplazos frecuentes, lo cual implica un ahorro significativo de recursos naturales, materias primas críticas y energía asociada a los procesos de fabricación. Esta eficiencia redunda en un impacto ambiental positivo, haciendo que el diseño de microelectrónica más robusta sea un pilar esencial para la conservación del planeta y el avance hacia una electrónica más sostenible y responsable.

Esta información y otros detalles se pueden conocer en https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/11015631

Desde el IMSE queremos darle la enhorabuena a Andrés Santana, a Rafael Castro, a Elisenda Roca y a Francisco V. Fernández por esta investigación y felicitarles por la posterior publicación en una de las revistas más prestigiosas en el campo de la microelectrónica.

Instituto de Microelectrónica de Sevilla
7 Julio 2025

COMPARTIR