Desde el Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM) nos complace anunciar la reciente publicación de la mano de la revista IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers del artículo titulado "A Comprehensive Approach to Improving the Thermal Reliability of RTN-Based PUFs" al que han contribuido investigadores de nuestro centro.
En este estudio, la seguridad hardware se plantea como una alternativa ''low-cost'' para proteger nuestros datos frente a terceros, especialmente en un mundo donde los ciberataques son cada vez más comunes. En particular, las Funciones Físicas No Clonables (PUFs), que son las "huellas digitales" de los dispositivos electrónicos, se presentan como una opción interesante para generar claves criptográficas que protejan las comunicaciones entre personas. Sin embargo, y aunque su vida útil es larga, el calor o el frío pueden alterar su funcionamiento. Para resolver este problema, el estudio propone ciertos métodos que permiten que estos sistemas sigan funcionando adecuadamente, incluso cuando cambia la temperatura, ampliando el rango de aplicabilidad de estos dispositivos.
Desde el IMSE queremos darle la enhorabuena a Fernando de los Santos, Francisco J. Rubio, Rafael Castro, Elisenda Roca y Francisco V. Fernández por esta investigación y felicitarles por la posterior publicación en uno de los medios mejor valorados en la comunidad científica.
Instituto de Microelectrónica de Sevilla
8 Octubre 2024