Prestación de servicio ofertada por la Unidad de Soporte Técnico al Diseño y Test de Circuitos Integrados.
Los dispositivos electrónicos en aplicaciones de espacio, defensa y medicina están expuestos a diversos tipos de radiación, que incluyen fotones y partículas
de alta energía (electrones, protones, neutrones e iones). La radiación puede producir efectos que se pueden manifestar como una degradación de los parámetros a
largo plazo (efectos de la dosis total de ionización o TID) o cambios transitorios en el estado de los circuitos (efectos transitorios). Mientras que el
endurecimiento frente a TID de los procesos de fabricación de circuitos integrados en general ha mejorado en estos últimos años, principalmente debido a las
reducciones en espesores de óxido de puerta y aumentos en densidades de dopaje, la reducción de las dimensiones de los dispositivos han aumentado la sensibilidad
de los dispositivos a los efectos transitorios.
El servicio ofrece la posibilidad de estudiar el efecto producido por el impacto de una partícula de alta energía en un dispositivo semiconductor o circuito
(Single-Event Effects o SEE) mediante el método de láser pulsado, que es una herramienta potente y de bajo coste para obtener información acerca de la dependencia
espacial y temporal de la sensibilidad que presentan los circuitos integrados a radiación. El equipamiento del servicio consta de un láser de femtosegundo muy compacto
PULSBOX PICO-RAD 1064-50, fabricado por PULSCAN, que utiliza la técnica del fotón único con longitud de onda 1064nm y un osciloscopio de señal mixta MSO9404A para
la adquisición de la señal de salida.
| Opciones | Unidad | Sector Público | Otros clientes |
|---|---|---|---|
| Test de eventos simples con láser pulsado | €/day | 739,04 € | 809,43 € |
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