La increíble evolución de las tecnologías nano-CMOS, con la aparición de nuevos materiales y dispositivos, está detrás de la omnipresencia de la electrónica en nuestras vidas. Sin embargo, la creciente demanda de circuitos integrados (CI) no está exenta de retos: nuestra economía y sociedad digitales exigen que sean más funcionales, fiables y seguros, y campos como IoT, o ciberseguridad se han convertido en prioritarios.
Un obstáculo crítico en esa evolución es la variabilidad, culpable de variaciones paramétricas de los dispositivos que conducen a pérdidas de fiabilidad del CI. Ya sea tras su fabricación (TZV, Time-Zero Variability) o durante la vida del CI (TDV, Time-Dependent Variability), la variabilidad termina comprometiendo funcionalidad o vida útil. De hecho, si no priorizamos la consideración de la variabilidad, los CIs no serán capaces de cumplir con los requisitos de seguridad, protección y fiabilidad.
VIGILANT afronta este reto desde dos perspectivas. Primero se desarrollarán soluciones y nuevos paradigmas de diseño para mitigar o hacer más tolerable su impacto. Segundo, en lugar de mitigar, se explotará TZV y TDV para seguridad hardware. Si bien esta dualidad mitigación/explotación es un objetivo clave, existe otro transversal: la evaluación de tecnologías y su potencial para ambas (desde bulk- CMOS, pasando por FDSOI, hasta alternativas beyond-CMOS como los memristores). Para cumplir los objetivos, VIGILANT cuenta con la experiencia complementaria de 3 equipos (IMSE, UAB, UPC) con una trayectoria de éxito en la investigación colaborativa de la variabilidad.