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Unidades de investigación » Diseño y test de circuitos integrados de señal mixta » Test y diseño-para-test de circuitos analógicos, de señal mixta y de radio-frecuencia (AMS-RF)

Test y diseño-para-test de circuitos analógicos, de señal mixta y de radio-frecuencia (AMS-RF)

Contacto:

Diego Vázquez García de la Vega

dgarciaimse-cnmcsices

Gildas Léger

legerimse-cnmcsices

Palabras clave: circuitos integrados de señal mixta, test, testado, diseño para testabilidad, built-in-selft-test (BIST)

Descripción
Método de medida de la linealidad de un ADC basado en un doble histograma. A partir de los histogramas (densidad de códigos) obtenidos con una señal de entrada monótona (pero potencialmente no-lineal) y su desplazada por un offset, se puede medir la INL de un convertidor de alta resolución.
En general, esta linea de investigación abarca todas las actividades relacionadas con el desarrollo tanto de técnicas de test funcional de bajo coste como de técnicas de diseño para testabilidad más estructurales u orientadas a defecto. Las técnicas de test empotrado, llamadas BIST (Built-in Self Test) son de especial interés para reducir la complejidad del plan de test o simplemente para posibilitar el testado de los bloques de IP usados en SoCs (Systems-on-Chip). Los temas de investigación más recientes son:
  • Testado concurrente y BIST para circuitos AMS-RF.
  • Técnicas de caracterización de señales periódicas y circuitos de generación de señales sinusoidales para el test funcional empotrado de circuitos analógicos y de señal mixta.
  • Técnicas de test de bajo coste para convertidores analógico-digital.
  • Test alternativo (post-procesado estadístico) aplicado a circuitos de señal mixta.
  • Extensión de las técnicas de test basado en oscilación.
Post-procesado estadístico para el Test Alternativo. En base a un sub-conjunto de dispositivos completamente caracterizados, un algoritmo de aprendizaje extrae Las relaciones no-lineales y multidimensionales entre sencillas firmas y las especificaciones. Este modelo se usa para testar el resto de dispositivos únicamente con las firmas.
Resultados destacados
G. Leger and A. Rueda, "Low-cost Digital Detection of Parametric Faults in Cascade Sigma-Delta Modulators", IEEE Trans. on Circuits and Systems I: Regular Papers, vol. 56, no. 7, pp. 1326-1338, Jul 2009  » doi
M.A. Jalon, A. Rueda and E. Peralias, "Enhanced Double-histogram Test", Electronics Letters, vol. 45, no. 7, pp. 349-351, Mar 2009  » doi
M.A. Jalon and E. Peralias, "ADC Non-Linearity Low-Cost Test Through A Simplified Double-Histogram Method", Journal of Electronic Testing, vol. 26, no. 1, pp. 47-58, Jan 2010  » doi
M. Barragan, D. Vazquez and A. Rueda, "Analog Sinewave Signal Generators For Mixed-Signal Built-In Test Applications", Journal of electronic testing, vol. 27, 3, pp. 305-320, Jun 2011  » doi
A.J. Gines, E. Peralias and A. Rueda, "Blind Adaptive Estimation of Integral Nonlinear Errors in ADCs using Arbitrary Input Stimulus", IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, vol. 60, no. 2, pp. 452-461, Feb 2011  » doi
Proyectos y contratos de investigación relacionados con la línea
DANTE: Adapting Mixed-signal and RF ICs Design and Test to Process and Evironment Variability (TEC2011-28302); IP: Adoración Rueda Rueda; Financia: Ministerio de Ciencia e Innovación; 1/1/2012 - 31/12/2014
Self-calibration & Self-Test in Analog, Mixed-Signal and RF ICs (P09-TIC-5386); IP: Adoración Rueda Rueda; Financia: Junta de Andalucía - Proyectos de Excelencia. 3/3/2010 - 3/2/2014
TOEST: Towards One European Test Solution; IP: José L. Huertas Díaz; Financia: CE: CATRENE European Program - CT302; 2009-2011